自動(dòng)X射線檢測(AXI)

自公司成立以來,迅得電子始終致力于為客戶提供高質(zhì)量、低價(jià)格的電路板組裝和電子成品組裝服務(wù)。隨著表面貼裝技術(shù)(SMT)的發(fā)展和電子產(chǎn)品復(fù)雜性的不斷提升,高密度和小型化逐步成為了當(dāng)代電路板的主流發(fā)展趨勢。作為結(jié)構(gòu)性測試和檢測的主要形式,自動(dòng)光學(xué)檢測僅適用于比較容易找到的缺陷,如開路、橋連、焊料不足或過多以及短路等。但是,由于一些元器件封裝(例如BGA)的引腳隱藏在芯片封裝之下,AOI受到了極大的挑戰(zhàn),這就是我們引入自動(dòng)X射線檢測的原因。


同屬于相同的結(jié)構(gòu)性測試和檢查類別,自動(dòng)X射線檢測與自動(dòng)光學(xué)檢測具有相同的工作原理,即通過捕獲圖像進(jìn)行檢查。它們之間的差異在于自動(dòng)光學(xué)檢測依賴于光源捕獲圖像,而自動(dòng)X射線檢測依賴于X射線捕獲圖像。不同的材料根據(jù)其原子量比例吸收不同量的X射線,由重元素制成的材料比由輕元素制成的材料能夠吸收更多的X射線。因此,吸收更多X射線的材料在圖像中顯示得更加明顯或顏色更暗,吸收更少X射線的材料則相反。以電路板組裝為例,焊點(diǎn)由重元素材料制成,在X射線圖像中呈現(xiàn)較深的顏色,而其它部分,如大多數(shù)封裝、硅IC和元件引線則由輕元素材料制成,在X射線圖像中呈現(xiàn)較淺的顏色。

基于其工作原理和功能,自動(dòng)X射線檢測用于測試包含陣列式封裝在內(nèi)的精細(xì)間距封裝元件的電路板。自動(dòng)X射線檢測儀通常放置在最后一次焊接之后,通常需要配合邊界掃描測試、ICT測試和功能測試一起使用,以獲得最佳檢測結(jié)果。

自動(dòng)X射線檢測的優(yōu)點(diǎn)包括:
① 有助于在印制電路板組裝過程的早期階段發(fā)現(xiàn)缺陷;
② 有助于降低缺陷造成的損失;
③ 有助于防止剩余電路板組件出現(xiàn)類似缺陷。

迅得電子配備SCIENSCOPE型號(hào)為VIEW2000X的自動(dòng)X射線檢測儀,能夠檢測出的缺陷包括:
① 開路或短路;
② 焊料不足或過多;
③ 元器件缺失;
④ 元器件放置不正確;
⑤ 焊料空洞等。


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